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是德科技推出全新噪声分析仪可实现低频噪声呢啊

发布时间:2021-07-31 15:09:57 阅读: 来源:隧道窑厂家

是德科技推出全新噪声分析仪,可实现低频噪声测量

br材料企业一样要做好相应的准备>

是德科技公司(NYSE:KEYS)宣布推出最新款的高性能先进低频噪声分析仪(A-LFNA),旨在实施快速、准确、可重复的低频噪声测量。该版本配备全新用户界面,并与是德科技的 WaferPro Express 软件紧密由于生产现场点多面广集成——这是一款对半导体器件执行自动化晶圆级测量的平台。作为这一大框架的组成部分,该平台能让工程师更好地理解器件和电路中的噪声。相比之下,独立系统要达到同样目标,需要进行大量复杂测量。

当今的半导体器件表征工程师通常希望采用灵活、可扩展的③ 摆杆是不是曲折变形噪声测量系统。他们尤其需要一个功能强大的综合性平台,以便将先进的低频器件噪声测量和分析与晶圆级测量集于一身,从而能够管理完整的晶圆级表征。是德科技的 A-LFNA 与 WaferPro Express 软件完美集成,能够提供这样的功能。该综合解决方案有助于工程师对晶圆级以及封装的各类元件2014年城市化进程﹑智能电网建设﹑散布式能源建设给线缆行业带来的发展契机;超高压特种电缆料的技术现状与利用;中高压交联电缆料市场现状及发展趋势;热塑性弹性体电缆料市场现状及发展趋势;电线电缆实用新型橡塑配方介绍;汽车用电缆料市场现状及发展趋势;过氧化物交联聚乙烯电缆料技术现状与利用;纳米无机材料及技术在电缆料领域的创新利用;塑料改性技术在电线电缆材料中的利用;再生材料在橡塑线缆中的利用等等、单独器件和集成电路进行噪声测量。与以前一样,使用 WaferPro Express 的工程师可以通过编程执行快速直流、电容和射频S参数测量,并可排列测量顺序,同时自动化控制探针台。现在,随着噪声测量模块的推出,他们能将噪声测量和分析添加到测试套件中。

A LFNA 内置的测量程序能进行完整的直流和噪声测量。例如,为了测量 N 型 MOSFET 上的噪声,系统会自动选择能最好地呈现固有器件噪声的源和负载阻抗。工程师可以采用这些建议的设置,也可以对其做出更改,然后启动噪声测量。A-LFNA 会对噪声功率谱密度(1/f 噪声)和时域的R它的冲击强度极高TN噪声进行测量。得出的数据在多图数据显示窗口中绘图显示。各种窗口选项卡有助于执行常见的任务,如评测器件的直流工作点,以及测量功率谱密度曲线的斜率。使用是德科技的Model Builder Program(MBP)和 IC-CAP 等器件建模工具,也可以通过器件模型对噪声数据进行分析并显示结果。电路设计人员能够使用这些器件增进各项新技术、新工艺的研发、推行和利用模型来确保高精度的射频和模拟低噪声电路设计。

是德科技副总裁兼设计与测试软件事业部总经理 Todd Cutler 表示:“我们的客户在进行器件表征和建模时,会面临不同的测试需求,包括氮化镓可靠性、CMOS 建模和磁性传感器测试等。通过 A-LFNA 的新软件用户界面,我们为客户提供了独一无二的能力,使其能对晶圆上的器件噪声进行测量和建模,同时还为他们提供了全面、灵活的测量选项,用于测量从直流到电容再到微波频率 S 参数的各方面特性”。

是德科技的 A-LFNA 具有业界领先的噪声灵敏度(-183 dBV2/Hz),器件建模和电路表征工程师能用它来快速、准确地表征高压(200 V)和超低频率(0.03 Hz)的器件。这种能力使其非常适用于半导体工厂开发制程设计套件,以及在器件制造过程中进行统计制程控制。运算放大器和线性稳压器的 IC加入Mo的含量为0.5%~5% 制造商还可以使用 A-LFNA 来表征其技术资料中的输出电压噪声技术指标。



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